Добавить в избранное     Сделать стартовой  
Офицальный сайт школы №36 города Саранска
Навигация
Главная Новости История О школе Наши труды Ученики Учителя Документация Школьный музей Фотогалерея Обратная связь Карта сайта

Реквизиты
Республика Мордовия,
г. Саранск, ул. Севастопольская 74
556324 – директор;
555096- бухгалтерия;
556225 – заместители директора по УВР

school36rm@yandex.ru

Статьи » В помощь ученикам
  В помощь ученикам    Возможные неисправности в вычислительной технике
Большинство неисправностей, возникающих при эксплуатации, представляют собой замыкание линий на землю или на линию напряжения питания, короткие замыкания между сигнальными линиями, обрывы, отсутствие резисторов, пробои транзисторов, низкий коэффициент усиления или чрезмерные задержки, причем такие неисправности могут быть одиночными и кратными.Для вычисления тестов физические неисправности должны быть представлены их логическими моделями. Уровень описания определяет модели неисправностей и методы вычисления тестов. Кстати говоря, если ваша девушка устала от ваших технических увлечений – купите ей духи, например narciso rodriguez for her цена вменяема, а ваша девушка будет просто счастлива и простит вам ваши увлечения.

На уровне логических вентилей описания модель объекта тестирования задается перечислением логических функций элементов и связей между ними. Используются следующие модели неисправностей:
1) константные неисправности. Моделируют постоянный О или 1 на входах или выходах схемы и обозначают соответственно константа О (КО) и константа 1 (К1). В дальнейшем неисправности КО и К1 в линии а будем обозначать соответственно а/0 и а/1;
2) короткие замыкания (КЗ). Моделируют короткие замыкания между сигнальными проводниками схем.

Неисправности константные и КЗ называют также статическими, так как они обнаруживаются при статическом тестировании. Хотя реальные дефекты ИС, СИС, БИС, ТЭЗ, как правило, не исчерпываются моделями одиночных константных неисправностей, большинство систем генерации тестов используют эти модели

Одним из недостатков описания схем на уровне логических вентилей является их сложность и громоздкость. Этот недостаток становится все более очевидным по мере роста степени интеграции. Это затрудняет вычисление тестов для больших схем. Кроме того, полнота проверки тестов, полученных с помощью систем генерации тестов, есть убывающая функция от числа вентилей. Из графика этой функции видно, что для схем, содержащих свыше 1000 вентилей (как для последовательных, так и для комбинационных схем), полнота проверки схемы падает ниже приемлемого уровня.

Другим недостатком описания схем на уровне логических вентилей является то, что часто детали структуры БИС, например микропроцессорных БИС, не доступны разработчикам тестов. Поэтому используют более высокий уровень описания устройств, в котором в качестве элемента описания используют не вентиль, а функциональный узел. Этот уровень описания, называемый функциональным (микрооперационным или уровнем регистровых передач), использует графовую модель процессоров (микропроцессоров) и других устройств. Модель устройства представляет собой граф, вершины которого соответствуют регистрам, сумматорам, функциональным преобразователям, информационному входу и выходу, а ребра определяют пути передачи информации.

Описание схем на функциональном уровне сокращает затраты на вычисление тестов. К достоинствам описания функционального уровня относится также возможность использования одних и тех же тестов для различной схемной реализации одних и тех же функциональных устройств.
Страниц : 1
09.05.13     Просмотров: 1631
Введите слово для поиска
Пользователь
Забыли пароль?
Регистрация

Поиск

Главная О сайте Новости Медиа архив Файлы Статьи
© 2018 Весь материал на сайте принадлежит сайту Школы 36 города Саранска
Rambler's Top100